描述
對於現時液晶顯示裝置日益普及，對於畫質表現要求越來越高的環境下，在一般高畫質動態影像所無法具有相應之高銳利度與高清晰度，於此狀態給予量測之項目，針對動態影像於動作中的成像速度快慢所造成畫質影響不在話下，在購置成本因素給予較大的空間，此系統便為此開發完成，能以較低成本與客觀量測，量測數據表示實際狀態等。
特點：
1.檢測液晶顯示裝置於高速影像更換下的畫面品質
2.具備一般量測與進階量測、閃爍量測功能
3.有效降低採購成本、可信賴之高精確度2μs
技術說明 ：
1.根據VESA規範所制定之反應時間量測方式（黑白）
2.延伸應用至Gray-To-Gray量測，更符合實際狀況
3.採用PMT光電倍增管,有效反應亮度之變化
4.採用反應時間低於μs級(10-6)之Sensor ，確保量測一般面板ms級(10-3）之精確度
5.採用NI製，高取樣率之DAQ，500ks/s，可清楚紀錄圖樣變化之過程之細節
功能 ：
1.黑白量測：符合一般規範所需要的基本量測
2.矩陣量測 (2×2、4×4、8×8、16×16、32×32 …etc)：支援更進階更細微之量測方式，更能切確表達真實情況
3.Flicker 量測面板閃爍功能
FMA：VESA 規範 AC/DC
JEITA：日本JIS定義之量測方式 1Hz~60Hz(dB)